AFM（原子間力顕微鏡）

森貞です。
今日は、近畿高エネルギー加工技術研究所というところで,AFM：Atomic Force Microscope（原子間力顕微鏡）の操作技術の研修に行ってきました。
AFMは数あるSPM：Scanning Probe Microscope（走査型プローブ顕微鏡）の中の1種で先鋭なプローブ（探針）で試料の表面をトレースしたときに、プローブと試料の表面との間に働く力（引力、斥力）を探知して映像化する顕微鏡です。
特徴としましては、真空中のだけではなく大気圧下、溶液中でも原子分解能を有しナノスケールでの表面観察のほか、微細加工や表面物性測定などにも広く用いられている。
観察対象としては導電性試料だけではなく高分子、生体分子、表面を化学修飾したナノパーティクルなど絶縁性試料の観察にも有効だそうです。
とにかくナノの世界なので、スケールと言いますか感覚的に理解しづらいと思います。
例えばこの機械の実際に測定できる面積は200μm角で、プローブ（探針）の先端のｒは20nmでプローブと試料との感覚は約0.4nmです。
これらの数値は、現実の生活の中ではないに等しいと思います。
だんだんくだけてきてしまいましたが、試料を測定した写真です。
これは薔薇の花弁です。上にも書きましたが、これを測定できるのもAFMの特徴の一つです。

あまり日常的に接する単位ではないので、面白かったですよ。
それではまた。。。